本书较为系统地介绍了操作次数、制备工艺、合金组元和含量对Ag/Ni电触头(第2章)、Ag/ZnO电触头(第3章)、Ag/CuO电触头(第4章)、Ag/CdO电触头(第5章)、Ag/SnO2电触头(第6章)、Ag/SnO2In2O3电触头(第7章)和Ag/MeO电触头(第8章)电弧侵蚀行为(电接触物理现象、电弧侵蚀率、电弧侵蚀形貌、横截面金相显微组织)的影响。在此基础上，深入探讨了银基电触头材料的电弧侵蚀机理，旨在为银基电触头材料的制备和应用提供理论和实验依据。本书是国内第一本系统介绍银基低压电触头电弧侵蚀行为的专著，它涵盖的内容对开发和设计新的综合性能优异的银基低压电触头材料具有重要参考价值和借鉴意义。

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