"随着各种高新技术的应用，雷达呈现复杂化、精密化和自动化的发展趋势，对其测试性和维修性也提出了更高的要求。在提高雷达测试性和维修性的众多措施中，机内测试（Built-in Test，BIT）技术是近年来最成功、最有效的技术手段，是复杂电子装备整体设计、分系统设计、状态监测、故障诊断、维修决策等方面的关键共性技术。在当前雷达BIT技术中，存在状态监测点设置不合理、监测深度不够、虚警率高等问题，一直阻碍着雷达BIT效能的充分发挥和更广泛、更深入的应用。为解决常规BIT中存在的各种问题，本书将智能BIT技术应用在状态监测与虚警抑制方面，重点介绍雷达智能BIT技术、雷达状态监测点的优化与诊断策略设计方法、雷达智能BIT整机性能监测方法、雷达BIT虚警分析及虚警抑制技术等内容。
本书由长期从事雷达信号处理领域的研究人员编写，总结凝练了最新科学研究成果。本书的出版，可为该领域的一线科研人员、相关领域的研究者和高校的人才培养提供智力支持，为雷达成像尤其是双基地ISAR提供理论和技术支撑。"

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